Investigadores de los EE.UU., Alemania, Singapur y España han desarrollado una nueva técnica para obtener imágenes de los defectos del límite de grano del grafeno mediante el análisis del comportamiento de los plasmones de su superficie. Su estudio revela que los defectos actúan como barreras electrónicas y son responsables de la baja movilidad de los electrones vista en algunas muestras de grafeno. Traducción en
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