Investigadores del grupo Ciencia e Ingeniería de los Materiales de la UCA han desarrollado un nuevo procedimiento para medir parámetros reticulares de materiales cristalinos con alta precisión a partir del análisis de diagramas de difracción de electrones (técnica utilizada para estudiar la materia haciendo que haces de electrones acelerados por voltajes descomunales incidan sobre una muestra sólida y muy delgada, y observando el patrón de interferencias de ondas resultante).
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