La electromigración es un fenómeno descubierto por el físico francés M. Gerardin en 1861, pero no tuvo relevancia más allá del ámbito teórico hasta que se fabricaron los primeros circuitos integrados en la década de los 60 del siglo pasado. La característica más sorprendente de este mecanismo, y lo que a los usuarios nos interesa conocer, es que puede provocar la degradación física de los semiconductores llegando, incluso, a dejarlos inservibles. Afortunadamente, tenemos cierto margen para combatirlo.
