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Electromigración: qué es y por qué es la mayor amenaza a la que se enfrentan todos nuestros dispositivos electrónicos  

La electromigración es un fenómeno descubierto por el físico francés M. Gerardin en 1861, pero no tuvo relevancia más allá del ámbito teórico hasta que se fabricaron los primeros circuitos integrados en la década de los 60 del siglo pasado. La característica más sorprendente de este mecanismo, y lo que a los usuarios nos interesa conocer, es que puede provocar la degradación física de los semiconductores llegando, incluso, a dejarlos inservibles. Afortunadamente, tenemos cierto margen para combatirlo.
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Electromigración en microprocesadores

Todos los componentes, tanto los mecánicos como los electrónicos, están sometidos a un desgaste por el uso y en este grupo incluyo a los microprocesadores, cachés y chips de memoria DRAM y Flash.
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Temperatura y degradación física en semiconductores

La temperatura afecta más de lo que creemos a los componentes electrónicos que dan vida a todo nuestro entorno digital. En especial este conciso artículo me centro en el análisis de la influencia de la temperatura en la memoria DRAM (DDR3, GDDR5), la memoria Flash presente en los discos SSD y en las tarjetas de memoria y también en las CPUs y demás componentes integrados en nuestras máquinas.
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Electromigración en microprocesadores

Electromigración en microprocesadores

Todos los componentes, tanto los mecánicos como los electrónicos, están sometidos a un desgaste por el uso y en este grupo incluyo a los microprocesadores, cachés, chips de memoria DRAM y Flash. Por ejemplo, un HDD se degrada día a día durante su utilización normal y conforme pasan los meses podemos seguir la variación de sus parámetros de funcionamiento mediante la tecnología SMART que nos informa del estado de salud del dispositivo. En dispositivos altamente miniaturizados se da una degradación constante de sus características eléctricas.
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